[摘 要]儲層孔隙度、滲透率和含水飽和度是評價儲層的重要儲層參數(shù)，也是油田開發(fā)過程中需要的重要數(shù)據(jù)。A開發(fā)區(qū)今年在新井解釋過程中發(fā)現(xiàn)部分測井曲線異常井，其測井響應(yīng)特征與正常儲層差異較大，主要表現(xiàn)在微電極、聲波、密度、自然電位等曲線電性特征不匹配，導(dǎo)致儲層參數(shù)與實(shí)際不符，后續(xù)研究出現(xiàn)偏差。本文綜合各種測井資料，形成了識別異常高壓層的方法，并對異常情況下的儲層參數(shù)進(jìn)行初步校正，提高測井資料的準(zhǔn)確性。
　　[關(guān)鍵詞]異常高壓層；儲層參數(shù)；電測曲線
　　中圖分類號：S223 文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A 文章編號：1009-914X（2018）24-0066-01
　　前言
　　注水開發(fā)過程中，受構(gòu)造、砂體形態(tài)、注采關(guān)系和非均質(zhì)的影響，部分油層逐漸形成異常高壓，影響油田開發(fā)效果。異常高壓又稱超壓，當(dāng)孔隙流體壓力高于靜水壓力時稱為超壓，其上限為地層破裂壓力。異常高壓與油氣成藏具有密切的聯(lián)系，是油氣運(yùn)移、聚集的重要動力，過高的異常壓力將會破壞油氣成藏環(huán)境的平衡。在不同的沉積盆地中，異常高壓的成因機(jī)制有所不同，但都受其所在盆地地層的沉積、成巖和構(gòu)造作用的影響。
　　1 異常高壓層的形成及特征
　　1.1 異常高壓層的形成原因
　　隨著開采層系井網(wǎng)的增加，油層部位套損井?dāng)?shù)逐年增加，分析原因主要是異常高壓層所致，高壓層形成原因比較復(fù)雜，類型較多，大致可分三類。
　　一、成巖作用
　　在粘土沉積物不斷壓實(shí)的過程中，會出現(xiàn)孔隙變小、孔隙中液體排出的情況。如果在沉積過程中，黏土孔隙中的流體在上覆沉積物的壓力之下不能夠順利排出，導(dǎo)致流體在相鄰的砂巖孔隙中不斷積蓄，從而形成異常高壓。
　　二、析出作用
　　三、注采作用
　　在對油氣藏進(jìn)行注采的過程中，如果注采出現(xiàn)不平衡的情況，就可能產(chǎn)生異常高壓情況。一是受微構(gòu)造和斷層的影響，導(dǎo)致注大于采或有注無采，形成了局部高壓區(qū)。二是油水井射孔對應(yīng)層發(fā)育狀況差，形成了局部高壓區(qū)。三是注采井距與砂體配置關(guān)系不適應(yīng)，造成水井排附近憋壓。四是采油井關(guān)井和堵水以及套損井長期待大修導(dǎo)致局部高壓區(qū)。
　　1.2 異常高壓層的分布
　　異常高壓層與地下油氣壓力失衡及注采系統(tǒng)不完善密切相關(guān)，它在平面上的分布特征主要有四個：①井網(wǎng)較密的區(qū)塊；②微構(gòu)造、斷層附近；③儲層物性較差的砂體；④砂體注采關(guān)系完善程度。通過A開發(fā)區(qū)近三年的異常高壓井?dāng)?shù)據(jù)可以看出，異常高壓在縱向上主要分布在H1、H2及I1油層組，在H3、I2和J1油層組也有分布。
　　1.3 異常高壓層的特征
　　1.3.1 異常高壓層的測井響應(yīng)特征
　　在新井解釋過程中，異常高壓層在電測曲線上有如下特征：
　　微電極曲線中高幅度，幅度差小或無幅度差，顯示的是差層特征或類似于鈣質(zhì)層的特征。自然電位無負(fù)異�；蜇�(fù)異常很小，與鈣質(zhì)層相似。密度呈低值，與油層反映相同，異常高壓層的存在對密度影響不大。井徑略有擴(kuò)徑顯示，差層井徑曲線有垮塌現(xiàn)象。
　　1.3.2 異常高壓層電性特征不同于油層與鈣質(zhì)層相似
　　解釋人員在進(jìn)行新井解釋時，很容易把異常高壓層誤判為鈣質(zhì)層。通過對油層、鈣質(zhì)層與異常高壓層曲線特征進(jìn)行分析，對比了正常儲集層、鈣質(zhì)層和異常高壓層三種不同儲集層測井曲線特征（如：表1）。
　　2 異常高壓層中儲層參數(shù)初步校正
　　2.1 異常高壓層對儲層參數(shù)的影響
　　孔隙度的計算與聲波時差曲線和密度曲線有關(guān)系。通過對多口井的孔隙度與聲波時差曲線和密度曲線對比，發(fā)現(xiàn)孔隙度與聲波時差曲線和密度曲線存在線性關(guān)系（圖1、圖2）。聲波時差曲線和密度曲線受異常高壓影響較小，所以孔隙度值變化也較小。
　　通過對幾種含水飽和模型的考察對比，優(yōu)選了雙地層水電阻率模型，確定含水飽和度，計算平均絕對誤差小于15%。公式如下：
　　式中：Swf、nf---自由水飽和度和自由水飽和度指數(shù)；
　　Rwz、Rwj---注入水電阻率和混合液電阻率；
　　φac、mac---宏觀孔隙度和孔隙指數(shù)；
　　φicm、micm---微毛細(xì)孔隙度和孔隙指數(shù)；
　　Rt、a---地層電阻率和阿爾奇系數(shù)。
　　公式中的注入水電阻率和混合液電阻率都是由自然電位曲線計算得出，自然電位曲線受異常高壓層影響極大，孔隙度也受異常高壓層影響，因此含水飽和度受異常高壓層影響明顯。
　　滲透率的計算一般與孔隙度和含水飽和度有關(guān)。公式如下：
　　式中：K---儲層滲透率
　　φ---儲層孔隙度
　　Swi---儲層束縛水飽和度
　　公式中束縛水飽和度可通過自由水飽和度計算得出，自由水飽和度和孔隙度都受異常高壓層影響，因此滲透率受異常高壓層影響明顯。
　　2.2 儲層參數(shù)初步校正
　　首先識別出異常高壓層，然后在本井曲線中找到與異常高壓層曲線相近的層段，應(yīng)用測井解釋軟件二次解釋后，得出新的儲層參數(shù)值，完成初步校正。
　　例如：A3-xxx井在1122米處為異常高壓層，通過與本井上下層對比進(jìn)行初步校正，調(diào)整曲線方波如圖3，進(jìn)行二次解釋。校正前異常高壓處孔隙度值為31.2，束縛水飽和度數(shù)值為15.2，滲透率數(shù)值為0.840。二次解釋后異常高壓處孔隙度值為31.6，束縛水飽和度數(shù)值為14.6，滲透率數(shù)值為0.893。
　　3 結(jié)論
　�。�1）根據(jù)異常高壓層在深淺測向、微電極電阻率曲線顯高值、密度顯低值、聲波顯高值以及自然電位曲線趨于平緩的特征，可準(zhǔn)確地將異常高壓層分辨出來。（2）孔隙度、滲透率、含水飽和度受聲波時差曲線和密度曲線影響較小，受自然電位曲線和微電極曲線影響較大。（3）利用本井上下層對比或鄰井同層對比校正曲線方波，二次解釋后可初步校正儲層參數(shù)。
　　作者簡介
　　張鶴川（1992年2月生，女）。于2014年7月畢業(yè)于吉林大學(xué)，現(xiàn)工作于大慶油田有限責(zé)任公司第三采油廠。聯(lián)系電話：13089040732。聯(lián)系qq：779610015。

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